ステージマイクロメータ校正スケールグリッド

簡単な説明:

基板:B270
寸法公差:-0.1mm
厚さ許容差:±0.05mm
表面平坦度:3(1)@632.8nm
表面品質:40/20
線幅:0.1mmと0.05mm
エッジ:研磨、最大0.3mm。全幅ベベル
クリアーアパーチャー:90%
並列処理:<5”
コーティング:高光学濃度不透明クロム、タブ<0.01%@可視波長
透明部、AR:R<0.35%@可視波長


製品詳細

製品タグ

製品説明

ステージミクロメーター、校正用ルーラー、グリッドは、顕微鏡やその他の画像撮影アプリケーションにおいて、測定や校正のための基準スケールとして広く使用されています。これらのデバイスは通常、顕微鏡のステージ上に直接設置され、システムの倍率や光学特性を評価するために使用されます。

ステージミクロメーターは、既知の間隔で正確に刻まれたグリッド線が入った小さなガラススライドです。グリッドは、サンプルの正確なサイズと距離を測定するために、顕微鏡の倍率を校正するためによく使用されます。

校正用定規とグリッドは、ステージミクロメーターと同様に、グリッドなどの正確に描かれた線が刻まれています。ただし、金属やプラスチックなどの他の素材で作られている場合もあり、サイズや形状も様々です。

これらの校正装置は、顕微鏡下でサンプルを正確に測定するために不可欠です。既知の基準スケールを使用することで、研究者は測定値の正確性と信頼性を確保できます。生物学、材料科学、電子工学などの分野で、標本のサイズ、形状、その他の特性を測定するために広く使用されています。

ステージマイクロメーター校正スケールグリッドをご紹介します。様々な業界で正確な測定を保証する革新的で信頼性の高いソリューションです。この非常に汎用性の高い製品は、様々な用途に対応し、比類のない精度と利便性を提供し、顕微鏡検査、イメージング、生物学などの分野の専門家にとって不可欠なツールとなっています。

システムの心臓部はステージマイクロメータです。これは、顕微鏡やカメラなどの測定ツールを校正するための目盛り付きの基準点を提供します。これらの耐久性に優れた高品質のマイクロメータは、シンプルな単線目盛りから、複数の十字や円が刻まれた複雑なグリッドまで、様々な業界のニーズに応えるため、様々なサイズとスタイルを取り揃えています。すべてのマイクロメータには、精度を高めるためにレーザーエッチングが施され、使いやすさを考慮した高コントラストのデザインが特徴です。

このシステムのもう一つの重要な特徴は、校正スケールです。これらの精巧に作られたスケールは、測定の視覚的な基準を提供し、顕微鏡ステージやXY移動ステージなどの測定機器の校正に不可欠なツールです。これらのスケールは、耐久性と長寿命を確保するために高品質の素材で作られており、さまざまな用途の要件に合わせて様々なサイズが用意されています。

最後に、GRIDSは精密測定のための重要な基準点を提供します。これらのグリッドは、シンプルなグリッドから複雑な十字や円まで、様々なパターンがあり、精密測定のための視覚的な基準を提供します。各グリッドは耐久性を重視し、高コントラストのレーザーエッチングパターンにより優れた精度を実現します。

ステージマイクロメータ校正スケールグリッドシステムの主な利点の一つは、その利便性と汎用性です。様々なマイクロメータ、スケール、グリッドからお選びいただけるため、ユーザーは特定のアプリケーションに最適な組み合わせをお選びいただけます。研究室、現場、工場など、あらゆる場所で、専門家が求める精度と信頼性を実現します。

測定ニーズに応える信頼性の高い高品質なソリューションをお探しなら、ステージマイクロメーター校正ルーラーグリッドが最適です。卓越した精度、耐久性、そして利便性を備えたこのシステムは、きっとあなたのプロフェッショナルにとって貴重なツールとなるでしょう。

ステージマイクロメータ校正スケールグリッド(1)
ステージマイクロメータ校正スケールグリッド(2)
ステージマイクロメータ校正スケールグリッド(3)
ステージマイクロメータ校正スケールグリッド(4)

仕様

基板

B270

寸法公差

-0.1mm

厚さ許容差

±0.05mm

表面の平坦性

3(1)@632.8nm

表面品質

40/20

線幅

0.1mmと0.05mm

エッジ

研磨、最大0.3mm。全幅ベベル

クリアアパーチャ

90%

並列処理

45インチ未満

コーティング

         

高光学濃度不透明クロム、タブ<0.01%@可視波長

透明部、AR R<0.35%@可視波長


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